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簡単なサンプル処理-多目的なサンプル配置のための最小限の固定具要件
ユーザーフレンドリーな操作-優れた再現性と迅速な検出を備えたシンプルなプロトコル
包括的なスペクトルデータ-完全な分析のためのフルスペクトル反射率の値と曲線
高度な色測定-正確な材料の色特性評価のための統合球サンプリング
鏡面反射率測定-磨かれた表面および鏡のような材料のため
拡散反射分析-粗い/テクスチャ表面およびコーティングに理想的
精密カラー特性-材料と仕上げの正確な色測定
| モデル | BIX - 8811 - 0X1X (モデル注: 0X-分光計オプション、1X-サンプル固定オプション) |
| 分光計 | 01: 200nm - 1100nm (BIM - 6002S - 22 - S03L02F06G13) |
| 02: 200nm - 900nm (BIM - 6002A - 01 - S03L02F06G01) | |
| 03: 400nm - 1100nm (BIM - 6002A - 13 - S03L01F05G02) | |
| サンプル器具 | 11: 1に1ファイバー (SIM - 6102 - 1010 - S/S - P) * 2ea ダブルポイント反射ステージ (BIM - 6303) * 1ea |
| 12: Yタイプファイバー (SIM - 6102Y - 061016 - T/SS M) * 1ea ダブルポイント反射ステージ (BIM - 6303) * 1ea | |
| 13: 反射のための球を統合する (SIM - 3003 - 02501) * 1ea 統合球ステージ (BIM - 6316 - 25) * 1ea | |
| 光源 | 重水素タングステン光源 (BIM - 6203) * 1ea |
| 標準 | ミラー反射率標準 (SIM - 6326 - 30) * 1ea |
| 拡散反射標準 (SIM - 6304 - 30) * 1ea |
